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仿真電子系統設計指南（實踐篇）：從半導體、分立組件到ADI集成電路的分析與實現

為了解決multisim下載的問題，作者何賓 這樣論述：

本書以NI公司的Multisim Workbench、EVIS和rogel的測試儀器為平台，從仿真、虛擬儀器和實際測試儀器等三方面對模擬電子技術進行分析，並且提供了一些擴展性的設計內容，力圖全面反映模擬電子設計技術的發展趨勢。 第1章 構建模擬電子系統的基本知識 11.1 電阻 11.1.1 軸向引線型電阻 11.1.2 電阻網絡 41.1.3 貼片式電阻組件的封裝 51.2 電容 61.2.1 功能 61.2.2 有極性電容 71.2.3 無極性電容 91.2.4 聚苯乙烯電容 91.2.5 真實的電容值 91.2.6 電容的寄生效應 101.2.7 寄生電容 131.2

.8 不同類型電容比較 151.3 面包板 161.3.1 面包板結構和功能 161.3.2 寄生電容 18第2 章 SPICE仿真工具 202.1 Multisim Live特性及其應用 202.1.1 登陸Multisim Live 202.1.2 Multisim Live設計流程 212.2 ADIsimPE仿真工具特性及應用 302.2.1 下載和安裝ADIsimPE仿真工具 302.2.2 ADIsimPE仿真工具基本設計流程 32第3 章 測試儀器原理 383.1 數字示波器原理 383.1.1 信號的基本概念 383.1.2 示波器類型 413.1.3 數字示波器基本原理 41

3.1.4 性能參數 423.1.4 觸發方式 513.1.5 X-Y模式 583.2 信號發生器原理 583.2.1 信號發生器功能 583.2.2 信號發生器的類型 603.2.3 工作原理 603.3.4 性能參數 633.3 線性直流電源原理 703.3.1 工作原理 703.3.2 工作模式 713.3.2 性能參數 723.3.3 擴展應用 733.4 數字萬用表原理 743.4.1 工作原理 753.4.2 性能參數 753.5 頻譜分析儀原理 763.5.1 信號的時域和頻域表示 763.5.2 頻譜分析儀的用途 773.5.3 頻譜分析儀種類 783.5.4 性能參數 843

.6 直流電子負載 87第4 章 信號時域和頻率表示 904.1 實驗目的 904.2 實驗材料及儀器 904.3 MDO3054混合域示波器主要功能 904.3.1 常見按鈕和菜單 914.3.2 前面板菜單按鈕 914.3.3 頻譜分析控件操作面板 924.3.4 其他控制 924.3 實驗原理 944.3.1 設置任意函數發生器 944.3.2 正弦信號的時域分析 954.3.3 正弦信號的頻域分析 97第5 章 二極管電路設計與驗證 1035.1 二極管I/V曲線測量 1035.1.1 實驗目的 1035.1.2 實驗材料及儀器 1035.1.3 電路設計原理 1035.1.4 硬件測

試電路 1045.1.5 測試結果分析 1065.2 半波整流電路設計和驗證 1075.2.1 實驗目的 1075.2.2 實驗材料及儀器 1075.2.3 電路設計原理 1075.2.4 硬件測試電路 1085.2.5 測試結果分析 1095.3 全波整流電路設計和驗證 1105.3.1 實驗目的 1105.3.2 實驗材料及儀器 1105.3.3 電路設計原理 1115.3.4 硬件測試電路 1125.3.5 測試結果分析 1135.4 橋式整流電路設計和驗證 1135.4.1 實驗目的 1135.4.2 實驗材料及儀器 1145.4.3 電路設計原理 1145.4.4 硬件測試電路 11

55.4.5 測試結果分析 1165.5 限幅電路設計和驗證 1175.5.1 實驗目的 1175.5.2 實驗材料及儀器 1175.5.3 電路設計原理 1185.5.4 硬件測試電路 1195.5.5 測試結果分析 1205.6 交流耦合和直流恢復電路設計和驗證 1225.6.1 實驗目的 1225.6.2 實驗材料及儀器 1225.6.3 電路設計原理 1225.6.4 硬件測試電路 1245.6.5 測試結果分析 1255.7 可變衰減器設計和驗證 1265.7.1 實驗目的 1265.7.2 實驗材料及儀器 1265.7.3 電路設計原理 1265.7.4 硬件測試電路 1285.7

.5 測試結果分析 129第6 章　雙極結型晶體管電路設計與驗證 1316.1 BJT用作二極管 1316.1.1 實驗目的 1316.1.2 實驗材料及儀器 1316.1.3 電路設計原理 1316.1.4 硬件測試電路 1336.1.5 測試結果分析 1346.2 BJT輸出特性曲線測量 1356.2.1 實驗目的 1356.2.2 實驗材料及儀器 1366.2.3 電路設計原理 1366.2.4 階梯波生成方法 1386.2.5 硬件測試電路 1406.2.6 測試結果分析 1426.3 BJT共射極放大電路設計和驗證 1456.3.1 實驗目的 1456.3.2 實驗材料及儀器 145

6.3.3 電路設計原理 1456.3.4 硬件測試電路 1466.3.5 測試結果分析 1486.4 BJT鏡像電流源設計和驗證 1486.4.1 實驗目的 1496.4.2 實驗材料及儀器 1496.4.3 電路設計原理 1496.4.4 硬件測試電路 1506.6.4 測試結果分析 1516.5 基極電流補償鏡像電流源 1526.5.1 實驗目的 1526.5.2 實驗材料及儀器 1526.5.3 電路設計原理 1526.5.4 硬件測試電路 1536.5.5 測試結果分析 1556.6 零增益放大器設計和驗證 1566.6.1 實驗目的 1566.6.2 實驗材料及儀器 1566.6.

3 電路設計原理 1566.6.4 硬件測試電路 1586.6.5 測試結果分析 1596.7 穩壓電流源設計和驗證 1606.7.1 實驗目的 1616.7.2 實驗材料及儀器 1616.7.3 電路設計原理 1616.7.4 硬件測試電路 1626.7.5 測試結果分析 1636.8 並聯整流器設計和驗證 1646.8.1 實驗目的 1646.8.2 實驗材料及儀器 1646.8.3 電路設計原理 1646.8.4 硬件測試電路 1666.8.5 測試結果分析 1676.9 射極跟隨器設計和驗證 1696.9.1 實驗目的 1696.9.2 實驗材料及儀器 1696.9.3 電路設計原理

1696.9.4 硬件測試電路 1706.9.5 測試結果分析 1716.10 差模輸入差分放大器電路設計和驗證 1726.10.1 實驗目的 1726.10.2 實驗材料及儀器 1736.10.3 電路設計原理 1736.10.4 硬件測試電路 1756.10.5 測試結果分析 1776.11 共模輸入差分放大器電路設計和驗證 1786.11.1 實驗目的 1786.11.2 實驗材料及儀器 1786.11.3 電路設計原理 1796.11.4 硬件測試電路 1796.11.5 測試結果分析 181第7 章　金屬氧化物場效應晶體管電路設計與驗證 1827.1 MOS用作二極管電路測試 182

7.1.1 實驗目的 1827.1.2 實驗材料及儀器 1827.1.3 電路設計原理 1827.1.4 硬件測試電路 1847.1.5 測試結果分析 1857.2 MOS輸出曲線測量 1867.2.1 實驗目的 1877.2.2 實驗材料及儀器 1877.2.3 電路設計原理 1877.2.4 硬件測試電路 1887.2.4 測試結果分析 1907.3 MOS轉移特性曲線測量 1927.3.1 實驗目的 1927.3.2 實驗材料及儀器 1927.3.3 電路設計原理 1937.3.4 硬件測試電路 1957.3.5 測試結果分析 1967.4 MOS共源極放大電路設計和驗證 2007.4.

1 實驗目的 2017.4.2 實驗材料及儀器 2017.4.3 電路設計原理 2017.4.4 硬件測試電路 2027.4.5 測試結果分析 2037.5 MOS鏡像電流源電路設計和驗證 2047.5.1 實驗目的 2057.5.2 實驗材料及儀器 2057.5.3 電路設計原理 2057.5.4 硬件測試電路 2067.5.5 測試結果分析 2077.6 零增益放大器電路設計和驗證 2087.6.1 實驗目的 2087.6.2 實驗材料及儀器 2087.6.3 電路設計原理 2097.6.4 硬件測試電路 2107.6.5 測試結果分析 2117.7 源極跟隨器電路設計和驗證 2127.7

.1 實驗目的 2127.7.2 實驗材料及儀器 2137.7.3 電路設計原理 2137.7.4 硬件測試電路 2147.7.5 測試結果分析 2157.8 差模輸入差分放大器電路設計和驗證 2167.8.1 實驗目的 2167.8.2 實驗材料及儀器 2167.8.3 電路設計原理 2177.8.4 硬件測試電路 2187.8.5 測試結果分析 2197.9 共模輸入差分放大器電路設計和驗證 2207.9.1 實驗目的 2207.9.2 實驗材料及儀器 2217.9.3 電路設計原理 2217.9.4 硬件測試電路 2217.9.5 測試結果分析 223第8 章 集成運算放大器電路設計與驗

證 2248.1 同相放大器電路設計和驗證 2248.1.1 實驗目的 2248.1.2 實驗材料及儀器 2248.1.3 電路設計原理 2248.1.4 硬件測試電路 2268.1.5 測試結果分析 2278.2 反相放大器電路設計和驗證 2278.2.1 實驗目的 2288.2.2 實驗材料及儀器 2288.2.3 電路設計原理 2288.2.4 硬件測試電路 2298.2.5 測試結果分析 2308.3 電壓跟隨器電路設計和驗證 2318.3.1 實驗目的 2318.3.2 實驗材料及儀器 2318.3.3 電路設計原理 2328.3.4 硬件測試電路 2338.3.5 測試結果分析 2

348.4 加法器電路設計和驗證 2348.4.1 實驗目的 2348.4.2 實驗材料及儀器 2358.4.3 電路設計原理 2358.4.4 硬件測試電路 2368.4.5 測試結果分析 2378.5 積分器電路設計和驗證 2388.5.1 實驗目的 2388.5.2 實驗材料及儀器 2388.5.3 電路設計原理 2398.5.4 硬件測試電路 2408.5.5 測試結果分析 2418.6 微分器電路設計和驗證 2428.6.1 實驗目的 2428.6.2 實驗材料及儀器 2428.6.3 電路設計原理 2428.6.4 硬件測試電路 2438.6.5 測試結果分析 2448.7 半波整

流器電路設計和驗證 2458.7.1 實驗目的 2458.7.2 實驗材料及儀器 2458.7.3 電路設計原理 2468.7.4 硬件測試電路 2478.7.5 測試結果分析 2488.8 全波整流器電路設計和驗證 2498.8.1 實驗目的 2498.8.2 實驗材料及儀器 2498.8.3 電路設計原理 2498.8.4 硬件測試電路 2518.8.5 測試結果分析 2528.9 單電源同相放大器電路設計和驗證 2538.9.1 實驗目的 2538.9.2 實驗材料及儀器 2538.9.3 電路設計原理 2538.9.4 硬件測試電路 2548.9.5 測試結果分析 256第9 章　集成

差動放大器電路設計與驗證 2589.1 應變力測量電路設計和驗證 2589.1.1 實驗目的 2589.1.2 實驗材料及儀器 2589.1.3 應變片原理 2599.1.4 電路設計原理 2609.1.5 硬件測試電路 2629.1.6 測試結果分析 2639.2 熱電阻測量電路設計和驗證 2649.2.1 實驗目的 2659.2.2 實驗材料及儀器 2659.2.3 溫度傳感器原理 2659.2.4 電路設計原理 2669.2.5 硬件測試電路 2669.2.6 測試結果分析 267第10 章　有源濾波器電路設計與驗證 26910.1 一階有源低通濾波器電路設計和驗證 26910.1.1

實驗目的 26910.1.2 實驗材料及儀器 26910.1.3 電路設計原理 27010.1.4 硬件測試電路 27210.1.5 測試結果分析 27310.2 一階有源高通濾波器電路設計和驗證 27610.2.1 實驗目的 27610.2.2 實驗材料及儀器 27710.2.3 電路設計原理 27710.2.4 硬件測試電路 27910.2.5 測試結果分析 28010.3 一階有源帶通濾波器電路設計和驗證 28310.3.1 實驗目的 28310.3.2 實驗材料及儀器 28410.3.3 電路設計原理 28410.3.4 硬件測試電路 28610.3.5 測試結果分析 28810.4

一階有源帶阻濾波器電路設計和驗證 29410.4.1 實驗目的 29410.4.2 實驗材料及儀器 29410.4.3 電路設計原理 29510.4.4 硬件測試電路 29710.4.5 測試結果分析 29810.5 二階有源低通濾波器電路設計和驗證 30310.5.1 實驗目的 30310.5.2 實驗材料及儀器 30310.5.3 電路設計原理 30410.5.4 硬件測試電路 30510.5.5 測試結果分析 307第11 章 功率放大器電路設計與驗證 31111.1 B類功率放大器電路設計與驗證 31111.1.1 實驗目的 31111.1.2 實驗材料及儀器 31111.1.3 電路

設計原理 31111.1.4 硬件測試電路 31311.1.5 測試結果分析 31411.2 AB類功率輸出放大器電路設計與驗證（一） 31511.2.1 實驗目的 31611.2.2 實驗材料及儀器 31611.2.3 電路設計原理 31611.2.4 硬件測試電路 31811.2.5 測試結果分析 31911.3 AB類功率輸出放大器電路設計與驗證（二） 32011.3.1 實驗目的 32011.3.2 實驗材料及儀器 32011.3.3 電路設計原理 32011.3.4 硬件測試電路 32211.3.5 測試結果分析 323第12 章　振盪器電路設計與驗證 32512.1 移相振盪器電路

設計和驗證 32512.1.1 實驗目的 32512.1.2 實驗材料及儀器 32512.1.3 電路設計原理 32512.1.4 硬件測試電路 32712.1.5 測試結果分析 32912.2 文氏橋振盪器電路設計和驗證 32912.2.1 實驗目的 33012.2.2 實驗材料及儀器 33012.2.3 電路設計原理 33012.2.4 硬件測試電路 33212.2.5 測試結果分析 334第13 章　電源管理器電路設計與驗證 33513.1 線性電源電路設計和驗證 33513.1.1 實驗目的 33513.1.2 實驗材料及儀器 33513.1.3 硬件測試電路 33613.1.5 測試

結果分析 33713.2 降壓型開關電源設計與驗證 33913.2.1 實驗目的 33913.2.2 實驗材料和儀器 34013.2.3 電路設計原理 34013.2.4 硬件測試電路 34513.2.5 測試結果分析 34613.3 升壓型開關電源設計與驗證 35313.3.1 實驗目的 35313.3.2 實驗材料和儀器 35313.3.3 電路設計原理 35413.3.4 硬件測試電路 35513.3.5 測試結果分析 356第14 章　模擬電路自動測試系統的構建 36214.1 實驗目的 36214.2 實驗材料及儀器 36214.3 自動測試系統構建原理及實現 36214.3.1 下

載並安裝軟件 36214.3.2 測試儀器與上位機連接 36514.3.3 使用TekVISA軟件工具 36614.3.4 使用arbexpress軟件工具 36814.3.5 使用OpenChoice軟件工具