benq螢幕等級的問題，透過圖書和論文來找解法和答案更準確安心。 我們找到下列懶人包和總整理

LCM光學與老化檢測之物聯網系統設計

為了解決benq螢幕等級的問題，作者王昱翔 這樣論述：

現今在市場中，有許多類型的顯示器，較常見且需求量較大的顯示器為薄膜電晶體液晶顯示器(thin film transistor liquid crystal display, 簡稱TFT-LCD)。TFT-LCD易受環境等因素影響，並在製程中會透過LCM老化檢測與光學檢測進行檢測。而在以往的TFT-LCD檢測方式，是透過人眼檢測，但該方式不僅耗費人力與時間成本，也造成產能和產品品質下降的問題。因此，本研究以導入物聯網(Internet of Things,簡稱IoT)技術來改善TFT-LCD檢測流程。LCM檢測流程分為兩部分，第一部份為老化檢測，主要是將LCM放置在高溫的環境下運行，加速LCM

老化。且透過量測LCM在特定畫面下的電壓電流值判斷是否異常。第二部分為光學檢測，透過量測到的色座標、色域、亮度、色溫、Gamma等光學參數判斷LCM的好壞。本研究建置LCM光學與老化檢測之物聯網系統來改善LCM的檢測流程。其中，透過自行設計的複合式LCM驅動量測電路來驅動不同類型的LCM。該電路是透過STM32中的Cortex-M3系列微控制器來設計檢測流程的韌體。在老化檢測時，透過複合式LCM驅動量測電路來量測LCM在特定畫面時的電壓電流值，並採用無線韌體更新(Firmware Over-the-Air,簡稱FOTA)技術來解決傳統使用人力更新裝置韌體所造成的時間浪費。而在光學檢測時，是透過

UP Squared Board運行自行開發的光學檢測應用程式，在搭配複合式LCM驅動量測電路和光學儀器CA-310來量測光學參數。最後，將檢測的電壓電流和光學資料，上傳至雲端平台，以可視化方式呈現並透過機器學習對LCM進行等級分類。最後，本研究以LCM工廠中的產線做為實驗環境。經過實際的實驗與測試，驗證了系統的可行性與穩定性。其中，可減少老化檢測時的時間與人力成本，以及提升檢測準確率。其中，在更換複合式LCM驅動量測電路韌體所耗費的時間約為1分12秒。相對比人工操作，可節省約80%以上時間。而在光學檢測中，藉由量測LCM模組的光學特性參數來判斷該LCM模組是否符合規格，並將光學參數上傳至雲端

平台進行等級分類。最後，在網路通訊部分，使用學校5G場域進行測試與驗證，測試其使用在系統上的可行性與前瞻性。