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這兩本書分別來自電子工業 和人民郵電所出版 。
國立高雄科技大學 半導體工程系 顏志峰所指導 李晉瑋的 添加微量元素對無鉛錫球與鍍錫基板結合能力之評估 （2021），提出bga封裝關鍵因素是什麼，來自於高銀銲料、化學鍍錫IT、介金屬化合物IMC、介面反應、錫球實驗。
而第二篇論文中原大學 企業管理學系 黃文佐所指導 吳冠伶的 考慮週期時間的最小化封裝晶片在製品數量之彈性流程型工廠排程問題 （2021），提出因為有 週期時間、封裝晶片、彈性流程型工廠、限制驅導式排程、封裝測試、半導體的重點而找出了 bga封裝的解答。
最後網站BGA封裝跟LGA封裝有什麼區別 - 小蜜網則補充：BGA封裝 跟LGA封裝有什麼區別,1樓逍遙子家二者主要區別如下1 含義不同。bga的全稱叫做ball grid array ，中文意思是球柵網格陣列封裝lga的全.
SMT工藝不良與組裝可靠性
為了解決bga封裝 的問題，作者賈忠中 這樣論述：
本書是寫給那些在生產一線忙碌的工程師的。全書以工程應用為目標，聚焦基本概念與原理、表面組裝核心工藝、主要組裝工藝問題及應用問題，以圖文並茂的形式，介紹了焊接的基礎原理與概念、表面組裝的核心工藝與常見不良現象，以及組裝工藝帶來的可靠性問題。 本書適合於從事電子產品製造的工藝與品質工程師學習與參考。 賈忠中，高級工程師，先後供職於中國電子集團工藝研究所、中興通訊股份有限公司，從事電子製造工藝研究與管理工作近30年。在中興通訊股份有限公司工作也超過20年，見證並參與了中興工藝的發展歷程，歷任工藝研究部部長、副總工藝師、總工藝師、首席工藝專家。擔任廣東電子學會SMT專委會副主任委員
、中國電子學會委員。對SMT、可製造性設計、失效分析、焊接可靠性有深入、系統的研究，擅長組裝不良分析、焊點失效分析。出版了《SMT工藝品質控制》《SMT核心工藝解析與案例分析》《SMT可製造性設計》等專著。 第一部分 工藝基礎 1 第1章 概述 3 1.1 電子組裝技術的發展 3 1.2 表面組裝技術 4 1.2.1 元器件封裝形式的發展 4 1.2.2 印製電路板技術的發展 5 1.2.3 表面組裝技術的發展 6 1.3 表面組裝基本工藝流程 7 1.3.1 再流焊接工藝流程 7 1.3.2 波峰焊接工藝流程 7 1.4 表面組裝方式與工藝路徑 8
1.5 表面組裝技術的核心與關鍵點 9 1.6 表面組裝元器件的焊接 10 案例1 QFN的橋連 11 案例2 BGA的球窩與開焊 11 1.7 表面組裝技術知識體系 12 第2章 焊接基礎 14 2.1 軟釺焊工藝 14 2.2 焊點與焊錫材料 14 2.3 焊點形成過程及影響因素 15 2.4 潤濕 16 2.4.1 焊料的表面張力 17 2.4.2 焊接溫度 18 2.4.3 焊料合金元素與添加量 18 2.4.4 金屬在熔融Sn合金中的溶解率 19 2.4.5 金屬間化合物 20 2.5 相點陣圖和焊接 23 2.6 表面張力 24 2.6.1 表面張力
概述 24 2.6.2 表面張力起因 26 2.6.3 表面張力對液態焊料表面外形的影響 26 2.6.4 表面張力對焊點形成過程的影響 26 案例3 片式元件再流焊接時焊點的形成過程 26 案例4 BGA再流焊接時焊點的形成過程 27 2.7 助焊劑在焊接過程中的作用行為 28 2.7.1 再流焊接工藝中助焊劑的作用行為 28 2.7.2 波峰焊接工藝中助焊劑的作用行為 29 案例5 OSP板採用水基助焊劑波峰焊時漏焊 29 2.8 可焊性 30 2.8.1 可焊性概述 30 2.8.2 影響可焊性的因素 30 2.8.3 可焊性測試方法 32 2.8.4 潤濕稱
量法 33 2.8.5 浸漬法 35 2.8.6 鋪展法 35 2.8.7 老化 36 第3章 焊料合金、微觀組織與性能 37 3.1 常用焊料合金 37 3.1.1 Sn-Ag合金 37 3.1.2 Sn-Cu合金 38 3.1.3 Sn-Bi合金 39 3.1.4 Sn-Sb合金 39 3.1.5 提高焊點可靠性的途徑 40 3.1.6 無鉛合金中常用添加合金元素的作用 40 3.2 焊點的微觀結構與影響因素 42 3.2.1 組成元素 42 3.2.2 工藝條件 44 3.3 焊點的微觀結構與機械性能 44 3.3.1 焊點（焊料合金）的金相組織 45 3
.3.2 焊接介面金屬間化合物 46 3.3.3 不良的微觀組織 50 3.4 無鉛焊料合金的表面形貌 61 第二部分 工藝原理與不良 63 第4章 助焊劑 65 4.1 助焊劑的發展歷程 65 4.2 液態助焊劑的分類標準與代碼 66 4.3 液態助焊劑的組成、功能與常用類別 68 4.3.1 組成 68 4.3.2 功能 69 4.3.3 常用類別 70 4.4 液態助焊劑的技術指標與檢測 71 4.5 助焊劑的選型評估 75 4.5.1 橋連缺陷率 75 4.5.2 通孔透錫率 76 4.5.3 焊盤上錫飽滿度 76 4.5.4 焊後PCB表面潔淨度
77 4.5.5 ICT測試直通率 78 4.5.6 助焊劑的多元化 78 4.6 白色殘留物 79 4.6.1 焊劑中的松香 80 4.6.2 松香變形物 81 4.6.3 有機金屬鹽 81 4.6.4 無機金屬鹽 81 第5章 焊膏 83 5.1 焊膏及組成 83 5.2 助焊劑的組成與功能 84 5.2.1 樹脂 84 5.2.2 活化劑 85 5.2.3 溶劑 87 5.2.4 流變添加劑 88 5.2.5 焊膏配方設計的工藝性考慮 89 5.3 焊粉 89 5.4 助焊反應 90 5.4.1 酸基反應 90 5.4.2 氧化-還原反應 91 5.
5 焊膏流變性要求 91 5.5.1 黏度及測量 91 5.5.2 流體的流變特性 92 5.5.3 影響焊膏流變性的因素 94 5.6 焊膏的性能評估與選型 96 5.7 焊膏的儲存與應用 100 5.7.1 儲存、解凍與攪拌 100 5.7.2 使用時間與再使用注意事項 101 5.7.3 常見不良 101 第6章 PCB表面鍍層及工藝特性 106 6.1 ENIG鍍層 106 6.1.1 工藝特性 106 6.1.2 應用問題 107 6.2 Im-Sn鍍層 108 6.2.1 工藝特性 109 6.2.2 應用問題 109 案例6 鍍Sn層薄導致虛焊 109 6.
3 Im-Ag鍍層 112 6.3.1 工藝特性 112 6.3.2 應用問題 113 6.4 OSP膜 114 6.4.1 OSP膜及其發展歷程 114 6.4.2 OSP工藝 115 6.4.3 銅面氧化來源與影響 115 6.4.4 氧化層的形成程度與通孔爬錫能力 117 6.4.5 OSP膜的優勢與劣勢 119 6.4.6 應用問題 119 6.5 無鉛噴錫 119 6.5.1 工藝特性 120 6.5.2 應用問題 122 6.6 無鉛表面耐焊接性對比 122 第7章 元器件引腳/焊端鍍層及工藝性 124 7.1 表面組裝元器件封裝類別 124 7.2 電極鍍層結構 125 7.
3 Chip類封裝 126 7.4 SOP/QFP類封裝 127 7.5 BGA類封裝 127 7.6 QFN類封裝 127 7.7 外掛程式類封裝 128 第8章 焊膏印刷與常見不良 129 8.1 焊膏印刷 129 8.2 印刷原理 129 8.3 影響焊膏印刷的因素 130 8.3.1 焊膏性能 130 8.3.2 範本因素 133 8.3.3 印刷參數 134 8.3.4 擦網/底部擦洗 137 8.3.5 PCB支撐 140 8.3.6 實際生產中影響焊膏填充與轉移的其他因素 141 8.4 常見印刷不良現象及原因 143 8.4.1 印刷不良現象 143 8
.4.2 印刷厚度不良 143 8.4.3 汙斑/邊緣擠出 145 8.4.4 少錫與漏印 146 8.4.5 拉尖/狗耳朵 148 8.4.6 塌陷 148 8.5 SPI應用探討 151 8.5.1 焊膏印刷不良對焊接品質的影響 151 8.5.2 焊膏印刷圖形可接受條件 152 8.5.3 0.4mm間距CSP 153 8.5.4 0.4mm間距QFP 154 8.5.5 0.4～0.5mm間距QFN 155 8.5.6 0201 155 第9章 鋼網設計與常見不良 157 9.1 鋼網 157 9.2 鋼網製造要求 160 9.3 範本開口設計基本要求
161 9.3.1 面積比 161 9.3.2 階梯範本 162 9.4 範本開口設計 163 9.4.1 通用原則 163 9.4.2 片式元件 165 9.4.3 QFP 165 9.4.4 BGA 166 9.4.5 QFN 166 9.5 常見的不良開口設計 168 9.5.1 範本設計的主要問題 168 案例7 範本避孔距離不夠導致散熱焊盤少錫 169 案例8 焊盤寬、引腳窄導致SIM卡移位 170 案例9 熔融焊錫漂浮導致變壓器移位 170 案例10 防錫珠開孔導致圓柱形二極體爐後飛料問題 171 9.5.2 範本開窗在改善焊接良率方面的應用 171
案例11 兼顧開焊與橋連的葫蘆形開窗設計 171 案例12 電解電容底座鼓包導致移位 173 案例13 BGA變形導致橋連與球窩 174 第10章 再流焊接與常見不良 175 10.1 再流焊接 175 10.2 再流焊接工藝的發展歷程 175 10.3 熱風再流焊接技術 176 10.4 熱風再流焊接加熱特性 177 10.5 溫度曲線 178 10.5.1 溫度曲線的形狀 179 10.5.2 溫度曲線主要參數與設置要求 180 10.5.3 爐溫設置與溫度曲線測試 186 10.5.4 再流焊接曲線優化 189 10.6 低溫焊料焊接SAC錫球的BGA混裝再流
焊接工藝 191 10.6.1 有鉛焊料焊接無鉛BGA的混裝工藝 192 10.6.2 低溫焊料焊接SAC錫球的混裝再流焊接工藝 196 10.7 常見焊接不良 197 10.7.1 冷焊 197 10.7.2 不潤濕 199 案例14 連接器引腳潤濕不良現象 200 案例15 沉錫板焊盤不上錫現象 201 10.7.3 半潤濕 202 10.7.4 滲析 203 10.7.5 立碑 204 10.7.6 偏移 207 案例16 限位導致手機電池連接器偏移 207 案例17 元器件安裝底部噴出的熱氣流導致元器件偏移 208 案例18 元器件焊盤比引腳寬導致元器件偏移
208 案例19 片式元件底部有半塞導通孔導致偏移 209 案例20 不對稱焊端容易導致偏移 209 10.7.7 芯吸 210 10.7.8 橋連 212 案例21 0.4mm QFP橋連 212 案例22 0.4mm間距CSP（也稱?BGA）橋連 213 案例23 鉚接錫塊表貼連接器橋連 214 10.7.9 空洞 216 案例24 BGA焊球表面氧化等導致空洞形成 218 案例25 焊盤上的樹脂填孔吸潮導致空洞形成 219 案例26 HDI微盲孔導致BGA焊點空洞形成 219 案例27 焊膏不足導致空洞產生 220 案例28 排氣通道不暢導致空洞產生 220
案例29 噴印焊膏導致空洞產生 221 案例30 QFP引腳表面污染導致空洞產生 221 10.7.10 開路 222 10.7.11 錫球 223 10.7.12 錫珠 226 10.7.13 飛濺物 229 10.8 不同工藝條件下用63Sn/37Pb焊接SAC305 BGA的切片圖 230 第11章 特定封裝的焊接與常見不良 232 11.1 封裝焊接 232 11.2 SOP/QFP 232 11.2.1 橋連 232 案例31 某板上一個0.4mm間距QFP橋連率達到75% 234 案例32 QFP焊盤加工尺寸偏窄導致橋連率增加 235 11.2.2 虛焊
235 11.3 QFN 236 11.3.1 QFN封裝與工藝特點 236 11.3.2 虛焊 238 11.3.3 橋連 240 11.3.4 空洞 241 11.4 BGA 244 11.4.1 BGA封裝類別與工藝特點 244 11.4.2 無潤濕開焊 245 11.4.3 球窩焊點 246 11.4.4 縮錫斷裂 248 11.4.5 二次焊開裂 249 11.4.6 應力斷裂 250 11.4.7 坑裂 251 11.4.8 塊狀IMC斷裂 252 11.4.9 熱迴圈疲勞斷裂 253 第12章 波峰焊接與常見不良 256 12.1 波峰焊接 256
12.2 波峰焊接設備的組成及功能 256 12.3 波峰焊接設備的選擇 257 12.4 波峰焊接工藝參數設置與溫度曲線的測量 257 12.4.1 工藝參數 258 12.4.2 工藝參數設置要求 258 12.4.3 波峰焊接溫度曲線測量 258 12.5 助焊劑在波峰焊接工藝過程中的行為 259 12.6 波峰焊接焊點的要求 260 12.7 波峰焊接常見不良 262 12.7.1 橋連 262 12.7.2 透錫不足 265 12.7.3 錫珠 266 12.7.4 漏焊 268 12.7.5 尖狀物 269 12.7.6 氣孔—吹氣孔/ 269 12.7.7 孔填充不良 270
12.7.8 板面髒 271 12.7.9 元器件浮起 271 案例33 連接器浮起 272 12.7.10 焊點剝離 272 12.7.11 焊盤剝離 273 12.7.12 凝固開裂 274 12.7.13 引線潤濕不良 275 12.7.14 焊盤潤濕不良 275 第13章 返工與手工焊接常見不良 276 13.1 返工工藝目標 276 13.2 返工程式 276 13.2.1 元器件拆除 276 13.2.2 焊盤整理 277 13.2.3 元器件安裝 277 13.2.4 工藝的選擇 277 13.3 常用返工設備/工具與工藝特點 278 13.3.1 烙鐵 278 13.3.2
熱風返修工作站 279 13.3.3 吸錫器 281 13.4 常見返修失效案例 282 案例34 採用加焊劑方式對虛焊的QFN進行重焊導致返工失敗 282 案例35 採用加焊劑方式對虛焊的BGA進行重焊導致BGA中心焊點斷裂 282 案例36 風槍返修導致周邊鄰近帶散熱器的BGA焊點開裂 283 案例37 返修時加熱速率太大導致BGA角部焊點橋連 284 案例38 手工焊接大尺寸片式電容導致開裂 284 案例39 手工焊接外掛程式導致相連片式電容失效 285 案例40 手工焊接大熱容量外掛程式時長時間加熱導致PCB分層 285 案例41 採用銅辮子返修細間距元器件容易發生微橋連現象 286
第三部分 組裝可靠性 289 第14章 可靠性概念 291 14.1 可靠性定義 291 14.1.1 可靠度 291 14.1.2 MTBF與MTTF 291 14.1.3 故障率 292 14.2 影響電子產品可靠性的因素 293 14.2.1 常見設計不良 293 14.2.2 製造影響因素 294 14.2.3 使用時的劣化因素 295 14.3 常用的可靠性試驗評估方法—溫度迴圈試驗 296 第15章 完整焊點要求 298 15.1 組裝可靠性 298 15.2 完整焊點 298 15.3 常見不完整焊點 298 第16章 組裝應力失效 304 16.1 應力敏感封裝 304 1
6.2 片式電容 304 16.2.1 分板作業 304 16.2.2 烙鐵焊接 306 16.3 BGA 307 第17章 使用中溫度迴圈疲勞失效 308 17.1 高溫環境下的劣化 308 17.1.1 高溫下金屬的擴散 308 17.1.2 介面劣化 309 17.2 蠕變 309 17.3 機械疲勞與溫度迴圈 310 案例42 拉應力疊加時的熱疲勞斷裂 310 案例43 某模組灌封工藝失控導致焊點受到拉應力作用 310 案例44 灌封膠與PCB的CTE不匹配導致焊點早期疲勞失效（開裂） 312 第18章 環境因素引起的失效 313 18.1 環境引起的失效 313 18.1.1 電化
學腐蝕 313 18.1.2 化學腐蝕 315 18.2 CAF 316 18.3 銀遷移 317 18.4 硫化腐蝕 318 18.5 爬行腐蝕 318 第19章 錫須 321 19.1 錫須概述 321 19.2 錫須產生的原因 322 19.3 錫須產生的五種基本場景 323 19.4 室溫下錫須的生長 324 19.5 溫度迴圈（熱衝擊）作用下錫須的生長 325 19.6 氧化腐蝕引起的錫鬚生長 326 案例45 某產品單板上的輕觸開關因錫須短路 327 19.7 外界壓力作用下的錫鬚生長 327 19.8 控制錫鬚生長的建議 328 後記 330 參考文獻 331
添加微量元素對無鉛錫球與鍍錫基板結合能力之評估
為了解決bga封裝 的問題，作者李晉瑋 這樣論述：
目錄中文摘要 IABSTRACT II誌謝 III目錄 IV圖目錄 VII表目錄 IX第一章 簡介 11.1 前言 11.2 研究動機與目的 21.3論文架構 2第二章 文獻回顧與理論基礎 42.1 球柵陣列(BALL GRID ARRAY, BGA)封裝發展與目的 42.2 IC 封裝流程 52.3表面貼裝技術(SURFACE MOUNT TECHNOLOGY, SMT)原理 72.4焊料簡介 102.5 介面合金共化物(INTER-METALLIC COMPOUND，IMC) 162.6球墊表面處理 172.7 產品信賴性測試 222.7.1 錫球
推力值測試(Solder balls shear) 222.7.2 摔落測試(Drop test) 242.7.3 溫度循環測試(Temperature cycle test，TCT) 263.1錫球評估與實驗流程 273.2助焊劑評估與實驗流程 283.3 實驗機台設備及參數設定 313.3.1 自動植球機台設備 313.3.2 迴焊爐設備 323.3.3 助焊劑清洗設備 333.2.4 推拉力機台 35第四章 實驗結果與分析 374.1 錫球吸濕氧化變色比較結果 374.2 錫球迴焊後變色結果 384.2.1 錫球迴焊後推球測試結果 384.2.2 錫球迴焊後推
球殘錫結果 394.2.3錫球迴焊後IMC厚度生長結果 404.3錫球多次迴焊後IMC厚度生長結果 414.4錫球經過溫度循環測試後推球測試結果 424.4.1錫球經過溫度循環測試後推球殘錫結果 434.4.2錫球經過溫度循環測試後IMC厚度生長結果 444.5添加多少鉍成分對錫球最佳 45第五章 結論 465.1結論 465.2未來展望 46參考文獻 48
電子基礎維修工具核心教程
為了解決bga封裝 的問題，作者田佰濤 這樣論述：
本書用通俗易懂的語言和圖文並茂的形式介紹了電器產品維修中的電子基礎與維修工具，其中電子基礎部分講解了電阻、電容、二極管、三極管、場效應管、門電路等基本電子元件的知識，還特別介紹了如何分析電路圖；維修工具部分講解了萬用表、電烙鐵、熱風槍、BGA 返修台等常用維修工具的使用方法和技巧，還用較大篇幅詳細介紹了維修中的高端儀器—示波器的使用技巧。本書特別適合新入門的維修人員閱讀，也適合具有一定維修經驗的人員學習，以提高維修技術，同時也可作為計算機維修培訓學校、電子院校相關專業的培訓教材。田佰濤，山東大學電子工程系，國內知名的電腦硬件芯片級維修圖書主編，在一線從事維修工作10多年，具有豐富的維修理論知識
和過硬的維修實戰經驗，現為行家數碼維修連鎖機構總工程師。 第1章 電的基本知識11.1電的起源11.2電的作用21.3弱電、強電、高壓電21.4導體31.5電壓31.6電流41.7電阻41.8電阻定律51.9直流電與交流電61.10開路、斷路、擊穿、短路6第2章 電阻82.1電阻器介紹82.2電阻的分類92.3電阻阻值的標識方法132.3.1直標法132.3.2色環標法142.3.3三位數標法152.4電阻的串並聯172.4.1電阻串聯172.4.2電阻並聯172.4.3電阻混聯182.5電阻串並聯后的電路分析182.5.1歐姆定律192.5.2電阻串聯后的電路分析192.
5.3電阻並聯后的電路分析202.6節點分壓原理202.7電阻的測量與代換212.7.1萬用表212.7.2普通電阻的測量232.7.3功能電阻的測量242.7.4電阻的代換技巧25第3章 電容263.1電容的識別263.2電容的分類263.3電容的參數293.4電容參數的標識方法303.5電容的作用313.6電容的測量及好壞判斷333.7電容的代換35第4章 二極管364.1二極管概述364.2識別電路中的二極管364.3二極管的特性384.4二極管正負極的判斷384.5二極管的分類394.6二極管的測量及代換444.6.1二極管的測量444.6.2二極管的代換45第5章 三極管465.1三
極管概述465.2三極管的3種工作狀態475.3三極管的測量485.3.1三極管的好壞測量485.3.2三極管的極性判斷485.3.3三極管放大倍數的測量495.4數字三極管505.5三極管的代換515.6三極管的代換技巧52第6章 場效應管536.1場效應管的基本知識536.2場效應管的識別536.3場效應管的結構546.3.1單溝道場效應管556.3.2復合場效應管566.3.3特殊結構效應管566.4場效應管的測量與代換576.4.1場效應管的測量576.4.2場效應管的代換58第7章 晶振597.1晶振的識別597.2晶振的測量（示波器測量）627.3晶振的代換技巧64第8章 光電耦合
器658.1光電耦合器簡介658.2光電耦合器的識別658.3光電耦合器的特點668.4光電耦合器的分類668.5光電耦合器在實際電路中的應用678.6光電耦合器的測量678.7光電耦合器的代換67第9章 三端穩壓器699.1三端穩壓器的識別699.2三端穩壓器的應用709.3三端穩壓器的測量71第10章 電感線圈7310.1電感線圈的識別7310.2電感線圈的表示符號及單位7510.3電感線圈的分類7510.4實際電路板中常見的電感線圈7610.5電感線圈的測量8010.6電感線圈的代換81第11章 門電路與比較器、運算放大器8211.1門電路8211.1.1與門8211.1.2或門8311
.1.3非門8311.1.4跟隨器8411.1.5與非門8411.1.6或非門8511.2比較器與運算放大器8511.2.1比較器與運算放大器的基本知識8511.2.2比較器與運算放大器的區別88第12章 變壓器8912.1變壓器的識別8912.2變壓器的分類9012.2.1普通電壓變換變壓器9112.2.2開關電源變壓器91第13章 電路圖分析9313.1看電路圖前的准備工作9313.1.1看圖軟件的安裝9313.1.2使用軟件打開電路圖文件的方法9713.1.3看圖軟件的使用技巧9913.2在電路圖中識別各種電子元件10213.2.1識別電路圖中的電阻10313.2.2識別電路圖中的電容1
0413.2.3在電路圖中識別二極管10513.2.4在電路圖中識別三極管10513.2.5在電路圖中識別場效應管10613.2.6在電路圖中識別電感10813.2.7在電路圖中識別晶振10813.2.8在電路圖中識別三端穩壓器10813.2.9在電路圖中識別門電路10913.2.10在電路圖中識別變壓器10913.3分析電路圖中的典型電路11013.3.1電熱毯高、低溫電路工作原理分析11013.3.2場效應管狀態轉換的工作原理分析11113.3.3筆記本電腦高壓板供電的工作原理分析11113.3.4筆記本電腦液晶屏供電的工作原理分析11213.3.5供電與信號的工作原理分析11313.3.
6三端穩壓器在電路中的工作原理分析11413.3.72.5V內存供電的工作原理分析11413.3.8筆記本電腦高溫掉電的工作原理分析11513.3.9由門電路構成的供電輸出原理分析11613.3.10筆記本電腦適配器檢測電路工作原理分析116第14章 焊接工具的使用11814.1焊接輔助工具11814.1.1直腿鑷子與彎腿鑷子11814.1.2助焊膏11914.1.3毛刷12014.1.4棉花12014.1.5洗板水12014.1.6焊錫絲12214.1.7吸錫帶12214.1.8吸錫器12314.1.9尖嘴鉗與斜口鉗12414.1.10刻刀12514.1.11飛線12514.2電烙鐵1251
4.2.1普通電烙鐵12614.2.2恆溫電烙鐵12714.2.3恆溫電烙鐵的使用技巧13014.2.4恆溫電烙鐵與吸錫器搭配使用技巧13314.3熱風槍13514.3.1熱風槍的基本知識13514.3.2熱風槍的內部結構及工作原理13614.3.3熱風槍使用時的注意事項13614.3.4如何設置熱風槍的溫度與風量13714.3.5使用熱風槍焊接簡單元件的技巧13814.3.6使用熱風槍焊接中規模集成芯片的技巧14014.3.7用熱風槍焊接大規模芯片的焊接技巧14214.3.8用熱風槍焊接無引腳芯片的技巧14414.4BGA返修台14814.4.1采用BGA封裝的芯片類型14814.4.2有鉛
與無鉛的含義14814.4.3BGA焊接的風險14914.4.4帶膠BGA芯片的去膠方法14914.4.5BGA芯片去膠過程中的注意事項15214.4.6BGA焊接操作中的主要工具15214.4.7取BGA芯片前的准備工作15214.4.8取BGA芯片的注意事項及技巧15314.4.9取下BGA芯片后的焊盤處理15414.4.10BGA芯片的置球工作15514.4.11初級型BGA焊接設備介紹16114.4.12中級型BGA焊接設備介紹16214.4.13高級型BGA焊接設備介紹16714.4.14豪華型光學定位BGA焊接設備介紹17114.4.15BGA芯片的回焊工作174第15章 測量工具
的使用17715.1萬用表17715.1.1指針萬用表17715.1.2數字萬用表17715.2示波器18215.2.1示波器的分類18215.2.2認識數字示波器18315.2.3數字示波器的基本設置18615.2.4數字示波器的主要功能按鍵19015.2.5數字示波器在維修中的具體應用197
考慮週期時間的最小化封裝晶片在製品數量之彈性流程型工廠排程問題
為了解決bga封裝 的問題，作者吳冠伶 這樣論述：
本研究以半導體封裝測試業為主要研究對象。近年來半導體產業蒸蒸日上，全球市場龍爭虎戰，其中為半導體產業鏈的後段封裝測試，封裝測試廠進行IC封裝再進行最終測試、測試後直接出貨。如何整合製程進而達到良好的品質、準確的交期、更短的生產週期與更高的機台運用效率以獲得更高的客戶滿意度成為業界的一大挑戰。本研究A公司半導體封裝測試廠屬於彈性流程型工廠(Flexible Flow-Shop)，生產形式大多為接單式生產(Make-to-Order，MTO)，必須提供客製化與緊急需求的服務。在封測生產環境中，限制理論(Theory of Constraints，TOC)指出產能受限資源(Capacity-Co
nstrained Resource，CCR)之產出決定整個生產系統之產出，因此本研究導入限制驅導式排程方法(Drum-Buffer-Rope，DBR)，辨識出封裝測試廠的CCR產線，並提出一套建議排程方案以CCR為鼓排程(Drum)核心，與考慮出貨緩衝(Shipping Buffer)時間和次裝配緩衝時間、及封裝IC交期排程設定及考慮CCR緩衝時間(CCR Buffer)以利於推算封裝IC投料時間排程(Rope)。