Tft items的問題，透過圖書和論文來找解法和答案更準確安心。 我們找到下列懶人包和總整理

應用 FMEA 結合 TRIZ 提昇 RAID 產品品質之探討

為了解決Tft items的問題，作者周暐倫 這樣論述：

為提昇磁碟陣列產品在半導體設備機台上之產品品質，本研究藉由專家問卷針對提昇RAID產品品質訊息加以分析，並找最有效之改善建議後，回饋改善產品品質，如此可大幅將產品品質提升，更可通過市場客戶的嚴峻考驗及認同，未來銷售產品顧客抱怨度也會相對降低；因不良的產品可能會造成顧客使用上時間及財產得損失，故如何將產品品質提升，並有效將產品不良率降至最低，將顯得如此重要，再與事前的品管作業相互結合後，將可達到產品從設計至製造且出貨供顧客使用的穩定品質。本研究以風險優先數（Risk Priority Number, RPN）針對RAID(磁碟陣列)分析原理由維修故障案件資料中，針對失效項目分析找出主要其嚴重度

、發生度及難檢度進而計算出風險優先數（Risk Priority Number, RPN）最重要的項目，以視為產品之「失效模式效應分析(Failure Mode Effect Analysis, FMEA)」項目，此亦為產業常用來解決分析產品失效要素的實務方法之一，經失效模式的分析列出改善建議及措施，再經由「發明性創意問題解決理論(TRIZ)」來找出相對惡化的項目，並提供惡化項目的建議解決方法，再回饋於產品之設計及製造部門，透過可行性評估通過後實施。案例研究公司藉由此管理技術協助，由產品失效模式著手改善產品品質，以降低不良率及保固期維修率(Warranty claim rate)，進而採取適當

措施與預防方法，達成提昇顧客所滿意之品質。