DisplayPort HDMI的問題，透過圖書和論文來找解法和答案更準確安心。 我們找到下列懶人包和總整理

ThinkPad使用大全：商用筆電王者完全解析

為了解決DisplayPort HDMI的問題，作者GalaxyLee 這樣論述：

全球百科級ThinkPad專書，搞懂商用筆電王者，一本就通！ 　　◎取材自歷次參訪ThinkPad日本研發中心（Yamato Lab），詳細揭露ThinkPad三大硬體特色與設計哲學。 　　◎全彩圖文介紹平時較難接觸的原廠各式周邊裝置實機，深入活用ThinkPad專屬周邊。 　　◎ThinkPad BIOS與專屬軟體完整介紹，鉅細靡遺，深入淺出，徹底發揮主機實力。 　　★藉由本書，除了清楚硬軟體規格面的資訊，更能對Yamato Lab設計ThinkPad時所在意的機構、鍵盤、散熱這三大設計，有更深一步的體會。 　　由ThinkPad非官方情報站站長撰寫，全書共九大章節，涵蓋Think

Pad主機、原廠周邊、專屬軟體，全球百科級ThinkPad專書。 　　針對橫跨2018~2020年主流機種詳細介紹硬體諸元，新機採購不再鴨子聽雷，同時提供超完整功能說明。 　　深入介紹商用筆電王者：ThinkPad的軟硬體功能、特色及周邊設備，適合採購參考、後續操作指南以及進一步學習進階使用方法。  

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具資料獨立相位追蹤補償技術之20 Gb/s 半速率四階脈波振幅調變時脈與資料回復電路

為了解決DisplayPort HDMI的問題，作者柯佑諺 這樣論述：

近年來，隨著科技的蓬勃發展對於傳輸速率的要求日益增加，高速串列傳輸技術取代傳統並列傳輸成為現今主流的傳輸技術。例如HDMI、Displayport、USB、SATA、PCI-Express等。此外隨著資料傳輸速率不斷的提升，為了降低系統所需的頻寬要求，四階脈波振幅調變的資料型態也逐漸被採用來取代非歸零式資料，以應付更高速的傳輸速率。本論文參考CEI-28G-VSR規格實現一個具資料獨立追蹤補償技術之半速率四階脈波振幅調變時脈與資料回復電路。提出的相位追蹤補償相位偵測器，解決傳統二進位相位偵測器在資料沒有轉態時可能造成高頻抖動容忍度降低的問題，並透過簡化相位偵測器的架構以減少迴路延遲，藉此來提

高抖動容忍度的表現。為了傳遞四階脈波振幅調變訊號，本論文提出一臨界電壓自適應系統，透過對四階脈波振幅調變訊號的資料準位進行自適應收斂，再利用電阻分壓的方式收斂出合適的臨界電壓，以利於系統對四階脈波振幅調變訊號進行判斷，藉此來還原出正確的資料，並達到更大的使用彈性。本論文之實驗晶片使用TSMC 40 nm (TN40G) 1P10M CMOS製程設計，電路操作電壓為0.9 V，輸入資料為20 Gb/s四階脈波振幅調變訊號，並利用PRBS7進行編碼，還原時脈速率為5.0 GHz，還原時脈之抖動峰對峰值為8.93 pspp，方均根植為1.49 psrms，抖動容忍度於佈局前模擬中與傳統二進位相位偵測

器相比則有15.63 %的改善，功率消耗為122.84 mW，晶片面積為0.96 mm2，核心電路面積為0.096 mm2。

高速數字接口原理與測試指南

為了解決DisplayPort HDMI的問題，作者李凱 這樣論述：

結合作者李凱多年從事高速數字設計和測試的經驗，對高速數字信號的基本概念、測試原理進行講解，同時結合現代計算機、移動設備、有線通信、航天設備里最新的高速數字接口，對其關鍵技術、測試方法等做詳細介紹和總結，以便於讀者理解和掌握高速數字接口的基本原理、實現技術、測試理念以及其發展趨勢。本書主要分為兩個部分：上半部分是高速數字信號的基本概念和測量原理；下半部分是常用高速數字接口總線的技術特點和測試方法。本書可供從事計算機、移動終端、有線通信、航空航天設備開發的工程人員了解學習高速數字總線的相關技術，也可供高校工科電子類的師生做數字電路、信號完整性方面的教學參考。 上部 高速數字信號

測量原理 第1章 無處不在的數字接口 第2章 數字信號基礎 2.1 什麼是數字信號(Digital Signal) 2.2 數字信號的上升時間(Rising Time) 2.3 數字信號的帶寬(Bandwidth) 2.4 數字信號的建立/保持時間(Setup/Hold Time) 2.5 並行總線與串行總線(Parallel and Serial Bus) 2.6 單端信號與差分信號(Single-ended and Differential Signals) 2.7 數字信號的時鍾分配(Clock Distribution) 2.8

串行總線的8b/10b編碼(8b/10b Encoding) 2.9 偽隨機碼型(PRBS) 2.10 傳輸線對數字信號的影響(Transmission Line Effects) 2.11 數字信號的預加重(Pre-emphasis) 2.12 數字信號的均衡(Equalization) 2.13 數字信號的抖動(Jitter) 2.14 擴頻時鍾(SSC) 第3章 數字測試基礎 3.1 數字信號的波形分析(Waveform Analysis) 3.2 數字信號的眼圖分析(Eye Diagram Analysis) 3.3 眼圖的參數

測量(Eye Diagram Measurement) 3.4 眼圖的模板測試(Mask Test) 3.5 數字信號抖動的成因(Root Cause of Jitter) 3.6 數字信號的抖動分解(Jitter Seperation) 3.7 串行數據的時鍾恢復(Clock Recovery) 3.8 示波器的抖動測量能力(Jitter Measurement Floor of Scope) 3.9 相位噪聲測量(Phase Noise Measurement) 3.10 傳輸線的特征阻抗(Characteristic Impedance)

3.11 特征阻抗的TDR測試(Time Domain Reflectometer) 3.12 傳輸線的建模分析(Transmission Line Modelling) 第4章 實時示波器原理 4.1 模擬示波器(Analog Oscilloscope) 4.2 數字存儲示波器(Digital Storage Oscilloscope) 4.3 示波器的帶寬(Bandwidth) 4.4 示波器的頻響方式(Frequency Response) 4.5 示波器帶寬對測量的影響(Bandwidth Impact) 4.6 示波器的帶寬增強技術(Ba

ndwidth Enhancement Technology) 4.7 示波器的頻帶交織技術(Bandwidth Interleaving Technology) 4.8 示波器的采樣技術(Sampling Technology) 4.9 示波器的分辨率(Vertical Resolution) 4.10 示波器的直流電壓測量精度(DC Voltage Accuracy) 4.11 示波器的時間測量精度(Delta-Time Accuracy) 4.12 示波器的等效位數(ENOB) 4.13 示波器的高分辨率模式(High Resolution)

4.14 示波器的內存深度(Memory Depth) 4.15 示波器的死區時間(Dead Time) 4.16 示波器的顯示模式(Display Mode) 4.17 示波器的觸發(Trigger) 4.18 示波器的觸發條件(Trigger Conditions) 4.19 示波器的觸發模式(Trigger Mode) 4.20 示波器的測量速度(Measurement update rate) 附錄 Agilent 公司90000X系列高端示波器原理 第5章 示波器探頭原理 5.1 高阻無源探頭(High Impedance Pa

ssive Probe) 5.2 無源探頭的常用附件(Passive Probe Accessories) 5.3 低阻無源探頭(Low Impedance Passive Probe) 5.4 有源探頭(Active Probe) 5.5 差分探頭(Differential Probe) 5.6 電流探頭(Current Probe) 5.7 高靈敏度探頭(High-sensitivity Probe) 5.8 探頭連接前端對測量的影響(Probe Head) 5.9 探頭衰減比對測量的影響(Probe Attenuation Ratio)

5.10 探頭的校准方法(Probe Calibration) 第6章 其他常用數字測量儀器 6.1 采樣示波器(Sampling Oscilloscope) 6.2 矢量網絡分析儀與TDR(VNA and TDR) 6.3 邏輯分析儀(Logic Analyzer) 6.4 協議分析儀(Protocol Analyzer) 6.5 誤碼分析儀(Bit Error Ratio Tester) 附錄1 Agilent公司U4154A邏輯分析儀簡介 附錄2 示波器協議解碼功能和協議分析儀的區別 第7章 常用測量技巧 7.1 電源紋波噪聲測

試方法 7.2 時間間隔測量 7.3 如何用示波器進行ps級時間精度的測量 7.4 怎樣測量PLL電路的鎖定時間 7.5 T型頭和功分器的區別 7.6 如何克服測試電纜對高頻測量的影響 第8章 用多台儀器搭建自動測試系統 8.1 自動化測試系統 8.2 LXI測試系統的硬件平台 8.3 LXI測試系統的軟件架構 8.4 LXI測試系統的優點 8.5 LXI測試系統的兼容性問題 8.6 LXI測試系統的時鍾同步 8.7 LXI測試系統的網絡安全性下部 高速數字接口及測試方法 第9章 PCI-E簡介及信號和協議測試方

法 9.1 PCI-E總線簡介 9.2 PCI-E 協會簡介 9.3 PCI-E信號質量測試 9.4 PCI-E協議調試和測試 9.5 PCI-E測試總結和常見問題 第10章 PCI-E 3.0簡介及信號和協議測試方法 10.1 PCI-E 3.0數據速率的變化 10.2 PCI-E 3.0發送端的變化 10.3 PCI-E 3.0接收端的變化 10.4 PCI-E 3.0信號質量測試 10.5 PCI-E 3.0接收端容限測試 10.6 PCI-E 3.0協議的測試 10.7 PCI-E 3.0測試總結及常見問題

第11章 SATA簡介及信號和協議測試方法 11.1 SATA總線簡介 11.2 SATA協會簡介 11.3 SATA發送信號質量測試 11.4 SATA接收容限測試 11.5 SATA協議層測試和調試 11.6 SATA測試總結及常見問題 第12章 Ethernet簡介及信號測試方法 12.1 以太網技術簡介 12.2 10Base-T以太網測試項目 12.3 100Base-Tx以太網測試項目 12.4 1000Base-T以太網測試項目 12.5 10M/100M/1000M以太網的測試 12.6 10GBas

e-T的測試項目及測試 12.7 XAUI和10GBase-CX4測試方法 12.8 SFP+/10GBase-KR接口及測試方法 12.9 100G以太網標准及測試方法 12.10 100G及更高速率相干光通信測試方法 12.11 以太網測試總結及常見問題 第13章 MIPI D-PHY簡介及信號和協議測試方法 13.1 MIPI 簡介 13.2 MIPI D-PHY簡介 13.3 MIPI D-PHY信號質量測試 13.4 MIPI D-PHY的接收端容限測試 13.5 MIPI CSI/DSI的協議測試 13.6 MI

PI D-PHY測試總結及常見問題 第14章 MIPI M-PHY簡介及信號和協議測試方法 14.1 MIPI M-PHY簡介 14.2 MIPI M-PHY的信號質量測試 14.3 MIPI M-PHY的協議解碼 14.4 DigRF簡介 14.5 DigRF物理層測試 14.6 DigRF協議層測試 14.7 MIPI M-PHY測試總結及常見問題 第15章 存儲器簡介及信號和協議測試 15.1 存儲器簡介 15.2 DDR簡介 15.3 DDR信號的讀寫分離 15.4 DDR的信號探測技術 15.5 DDR的

信號測試 15.6 DDR的協議測試 15.7 eMMC簡介及測試 15.8 SD卡/UHS簡介及測試 15.9 存儲器測試總結及常見問題 第16章 USB 2.0簡介及信號和協議測試 16.1 USB 2.0簡介 16.2 USB 2.0的信號質量測試方法 16.3 USB 2.0信號質量測試中的測試模式設置 16.4 USB 2.0協議層調試方法 16.5 USB測試總結及常見問題 第17章 USB 3.0簡介及信號和協議測試 17.1 USB 3.0簡介 17.2 USB 3.0的發送端信號質量測試 17.3

USB 3.0信號質量測試中的測試碼型和LFPS信號 17.4 USB 3.0的接收容限測試 17.5 USB 3.0的電纜、連接器測試 17.6 USB 3.0的協議測試 17.7 USB 3.0測試總結及常見問題 第18章 HDMI 簡介及信號和協議測試 18.1 數字顯示接口 18.2 HDMI 簡介 18.3 HDMI 發送信號質量測試 18.4 HDMI 電纜和連接器的測試 18.5 HDMI 接收容限測試 18.6 HDMI 的協議層測試 18.7 HDMI 1.4 HEAC的測試 18.8 HDMI

測試總結及常見問題 第19章 MHL簡介及信號和協議測試 19.1 MHL簡介 19.2 MHL發送信號質量測試 19.3 MHL接收容限測試 19.4 MHL的協議測試 19.5 MHL測試總結及常見問題 第20章 DisplayPort簡介及信號測試 20.1 DisplayPort簡介 20.2 DisplayPort發送信號質量測試 20.3 DisplayPort接收容限測試 20.4 DisplayPort電纜和連接器測試 20.5 MYDP簡介及測試 20.6 DisplayPort測試總結及常見問題 第

21章 LVDS傳輸系統簡介及測試 21.1 LVDS簡介 21.2 LVDS的數字邏輯測試 21.3 LVDS信號質量測試 21.4 LVDS 互連電纜和PCB的阻抗測試 21.5 LVDS 系統誤碼率測試 21.6 LVDS測試總結 第22章 MIL-STD-1553B簡介及測試 22.1 1553總線簡介 22.2 1553總線的觸發和解碼 22.3 1553總線的測試 22.4 1553總線的未來

液晶顯示器與顯示卡相容性測試效率提升之研究

為了解決DisplayPort HDMI的問題，作者林玠鋒 這樣論述：

新產品開發的過程中，都必須要經過嚴格的品質測試來把關，最終將產品交付給與客戶，讓客戶可以在市面上販售。為了確保產品開發的品質，在產品設計的研發過程中，都是需要投入大量的人力物力來共同完成產品的開發專案，然而除了研發產品外，產品的設計驗證和軟硬體測試，也都是必須花許多時間來完成，目的是讓產品能在量產過程中能順利生產，最終確保產品的品質除了能符合客戶的需求之外，也能使消費在使用上不會遇到問題。消費者在購買產品使用後，也許本身的產品品質沒有問題，不過卻是在與其他產品的搭配使用上，面臨到相容性的問題發生，變相無法使用，造成使用者對產品品質產生疑慮，因而有損品牌形象。尤其當今的消費性電子產品為大宗，使

用者可能在操作上遇到產品相容性的問題，而造成無法正常使用，因此產品相容性的測試是不容忽視的一環。為了因應大量的測試需求，本研究以LCD液晶顯示器與顯示卡之相容性測試為例，將累積完成的測試專案，針對測試項目來進行分析，再經由風險評估，透過測試項目的優化安排，來達到提升測試效率、降低工時之目的。