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顯示卡:ASUS TUF GAMING RTX-3070
記憶體:Crucial DDR4-3200 16Gx4
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適用於DDR4-3200之高解析度、低抖動量量測誤差、抗變異時脈抖動感測器設計

為了解決DDR4 3200的問題,作者江虎城 這樣論述:

隨著製程越來越先進,和系統單晶片的時脈操作越來越快,變異對於系統的效能影響也就越大,時脈抖動是會影響系統效能的一個變異,但大部分的晶片測試中,很難針對時脈抖動來量測。過去時脈抖動多由外部儀器量測,但由於系統的操作頻率不斷提高,欲達到較高量測效能,將會相對的提高外部儀器成本,再加上外部儀器的探針會引入雜訊,影響量測結果。為了更有效的量測時脈的抖動,因此使用內建時脈抖動量測電路較外部量測適用於量測時脈抖動。然而,在量測抖動的過程中如果發生變異,將會影響量測抖動的結果,進而提供給使用者錯誤的抖動資訊,所以本論文提出適用於DDR4-3200之高解析度、低抖動量量測誤差、抗變異時脈抖動感測器設計[1]

。相較於傳統設計,我們新提出了即時且自動校準解析度電路,在量測DDR4-3200的時脈抖動時,此電路在每次的量測模式前會進行晶片內部校準,並且校準出的解析度會判斷是否有動態的變異發生,如果有變異發生,會改變整時脈抖動感測器的解析度來達到降低量測誤差。本論文以UMC 28nm製程實現,電路的工作電壓為0.9V。電路操作頻率依據DDR4-3200的規格1.6GHz,整體電路解析度在1ps,消耗功率約2.13mW,核心電路面積約為167um×98um,最糟量測誤差由傳統時脈抖動感測器的331%降低至-148%。