3d掃描尺寸的問題，透過圖書和論文來找解法和答案更準確安心。 我們找到下列懶人包和總整理

看圖讀懂半導體製造裝置

為了解決3d掃描尺寸的問題，作者菊地正典 這樣論述：

　　清華大學動力機械工程學系教授 羅丞曜  審訂 　　得半導體得天下？ 　　要想站上世界的頂端，就一定要了解什麼是半導體！ 　　半導體可謂現在電子產業的大腦，從電腦、手機、汽車到資料中心伺服器，其中具備的智慧型功能全都要靠半導體才得以完成，範圍廣布通信、醫療保健、運輸、教育等，因此半導體可說是資訊化社會不可或缺的核心要素！ 　　半導體被稱為是「產業的米糧、原油」，可見其地位之重要 　　臺灣半導體產業掌握了全球的科技，不僅薪資傲人，產業搶才甚至擴及到了高中職！ 　　但，到底什麼是半導體？半導體又是如何製造而成的呢？ 　　本書詳盡解說了製造半導體的主要裝置，並介紹半導體

所有製程及其與使用裝置的關係，從實踐觀點專業分析半導體製造的整體架構，輔以圖解進行細部解析，幫助讀者建立系統化知識，深入了解裝置的構造、動作原理及性能。

3d掃描尺寸進入發燒排行的影片

熔融沉積成型技術之模型尺寸誤差改善研究

為了解決3d掃描尺寸的問題，作者沈明皓 這樣論述：

熔融沉積成型(Fused Deposition Modeling, FDM)為眾多積層製造(Additive Manufacturing, AM)技術中的其中一種。FDM有著客製化等優點使其能應用於許多領域中，但本身也存在著缺點。本研究將著重於FDM之尺寸誤差缺點作改善。 直接影響尺寸誤差的決定因素在於加工路徑，亦即是沉積材料沉積的路徑。原因在於沉積材料相對於路徑點資料有著線徑之差距，而加工路徑即是模型的外型輪廓，由STL(STereoLithography)三角網格模型切層而來，且FDM為疊層的方式製造。故本研究改善尺寸誤差之主要方法，為將加工路徑作偏移，以補償線徑所造成的誤差。而加

工路徑偏移的偏移量，為根據三角網格與工作平面的夾角決定。 其中本研究發展之偏移方法有兩種：等向偏移(Isotropic Offset Method, IOM)與非等向偏移(Anisotropic Offset Method, AOM)方法。其主要差別在於一個切層輪廓偏移中，IOM以等量之偏移量偏移所有輪廓之邊，而AOM則是以輪廓各自邊之不同偏移量作偏移。 本研究之實驗FDM機台為Ultimaker 3，以實心特徵與空心特徵模型驗證IOM與AOM之差別，並由Cura商用軟體進行切層處理產生之模型為對照組。實心特徵模型AOM之誤差在公差範圍內比例為81.86%，而IOM為72.08%。

空心特徵模型AOM比例為89.5%，IOM為90.28%。以上公差範圍設定在±0.1mm之間，以此標準驗證之結果，在公差範圍內之比例，Cura實心特徵模型為75.59%，空心特徵模型63.89%都比AOM差。

SOLIDWORKS Premium培訓教材

為了解決3d掃描尺寸的問題，作者實威國際工程部 這樣論述：

　　SOLIDWORKS Premium是組合SOLIDWORKS 3D建模與應用工具的超值版產品，其中包含SOLIDWORKS Toolbox標準零件庫、Costing製作成本分析、CircuitWorks電路設計、設計規範檢查工具、eDrawings電子工程圖、公差分析、影像渲染、3D掃描資料處理、曲面展開、管路與電纜設計⋯等等十餘項具有專業生產力的工具。這些工具的組合也是將SOLIDWORKS 3D模型應用在不同領域重要的接口，對於習慣以SOLIDWORKS為設計工具的使用者來說，會是一項必須了解並熟悉的進階需求，也是提升SOLIDWORKS用戶水平的最佳選擇。

醫療器材射出成型件製程穩定之參數研究

為了解決3d掃描尺寸的問題，作者謝錦忠 這樣論述：

本文最主要是透過實驗設計Design of Experiments(DOE)的方法找出較適合成型參數，並將運算結果導入生產中，可減少試模次數並提供穩定生產製程。 量測數值以先進的成型機台、輔助的三維度量測儀和掃描機及統計軟體Minitab分析結果而來，透過數值分析了解生產內容及減少成本浪費。 將實驗數值運算轉成各種圖表分析並加以比對分析參數並加入長期製程能Process Performance Index(PPK)計算，獲得較佳成型參數模組代入生產製程，可確保成型件製程穩定及品質一致性，是本次實驗目的。 從各種圖表顯示分析的參數適合製程生產，其運算的總體平均PPK及中間值PPK皆

≧1.67，且製程Dimension 04(Dim04)/ Dimension 10(Dim10)/ Dimension 14(Dim14)分析結果皆在公差內，3Dimensions(3D)綠色掃描無顯示缺料等外觀問題，證明本實驗所運算出結果不僅是穩定的射出成型參數而且實際運用在生產可提供長期製程穩定。實驗過程不僅證明成型參數的實用性且經小量生產實驗所統計的結果，找出較佳的生產參數並符合長期製程生產。相關射出成型件，如用相同手法都可找出最適合的成型參數。