雙電源供應器的問題，透過圖書和論文來找解法和答案更準確安心。 我們找到下列懶人包和總整理

電子儀表(第五版)

為了解決雙電源供應器的問題，作者蕭家源,劉健群 這樣論述：

　　本書詳述各式儀表之工作原理、電路結構、操作方法及應用領域，它包含了基本指針儀表、數位儀表、示波器、信號產生器、信號分析儀表與自動測示系統等等，全書分九個章節，主要目的在於增進讀者對電子儀表之使用及測試概念，進而了解各式儀表之基本構造與原理，為培育電子工程師做準備，本書適用對象為：大學、科大之電機、電子系「電子儀表」之課程 本書特色 　　1.對各式儀表之基本工作原理、電路結構、操作方法及應用做詳盡的敘述。 　　2.詳細介紹各式指針儀表、示波器、信號產生器、電源供應器、信號分析儀表、數位儀表、基本橋式及向量儀表等。 　　3.本書附有儀表相關網站資料，方便讀者查閱參考。

　　4.本書適合大學、科大電子科系「電子儀表」課程使用。

雙電源供應器進入發燒排行的影片

微撓性探針製程及機械特性研究

為了解決雙電源供應器的問題，作者張思緯 這樣論述：

本研究延續歷代學長之微撓性探針最佳化設計、製程優化、特性分析以及測試方法，並且目前已成功將前四代MEMS之微撓性探針研究議題於最佳化設計、製程改善、機械特性分析及燒錄測試帶入研究，並應用與改善探針燒錄測試設備及測試平台，改良探針機械特性測試方法及相關實驗項目。論文研究前先針對探針端及固定端光罩設計上之瑕疵做改善，使得MEMS中可順利進行不破壞光阻，提高光阻模型的平坦度、電鑄完成後的探針之剝離率；並且針對MEMS上之實驗參數及製作流程做優化改善。完成MEMS取下微撓性探針後將進行探針燒錄測試，增加導套片之設計以橢圓形導孔來引導探針燒錄方向，使用導套片後確認造成偏位比率低於0.3%，故忽略偏位之

試驗，但由於察覺導孔磨損都偏向於外測探針端，故將導套設計分成兩片，試驗後發覺探針端的外側導孔磨損率約為4.081%，而內側導孔的磨損率約為1.305%，相差2~3倍。

電子儀表(第四版)

為了解決雙電源供應器的問題，作者蕭家源 這樣論述：

　　本書詳述各式儀表之工作原理、電路結構、操作方法及應用領域，它包含了基本指針儀表、數位儀表、示波器、信號產生器、信號分析儀表與自動測示系統等等，全書分九個章節，主要目的在於增進讀者對電子儀表之使用及測試概念，進而了解各式儀表之基本構造與原理，為培育電子工程師做準備。

高壓LED之溫度效應與LED檯燈之研究

為了解決雙電源供應器的問題，作者蘇涵宇 這樣論述：

本論文第一部分就InGaN為發光層之高壓(HV) LED與高功率(HP) LED作照度特性探討，由實驗結果可知LED特性受接面溫度與驅動電流影響。首先，溫度的改變會對LED材料原子與參雜原子的晶格產生影響，溫度繼續上升時，電流載子移動速度反而變慢，這是因為電流載子移動時會與震動的參雜原子碰撞發生散射現象而損耗使電流變小，實驗結果可以看出HV LED與HP LED有相同趨勢，溫度上升最強照度會下降且對應電流也跟著下降。其次，驅動電流上升時，LED的光電轉換效率下降，這與溫度有關，因為電流雖然上升但有部分電流損耗化為熱，使LED溫度上升導致出現前面的溫度效應現象，所以轉換效率差，本實驗結

果亦證實這點。所以HV LED的優點在小電流工作時，產生的廢熱比較少，只需設計適當的散熱總表面積，即可對LED壽命有幫助。由於HV LED的應用很多，故本論文第二部分選奇美10A1型DC LED檯燈進行模擬實驗。再以SolidWorks軟體繪製散光片的3D模型，經匯入TracePro光學模擬軟體進行光學模擬，由結果可以知道散光片大小對LED檯燈照度分佈的影響，若要改善則需改變LED排列方式方符合標準。