程式 class的問題，透過圖書和論文來找解法和答案更準確安心。 我們找到下列懶人包和總整理

A Comprehensive Guide to Measuring the Power and Energy of Modern Systems

為了解決程式 class的問題，作者Lee, Victor,Choi, Jee Whan,Cameron, Kirk 這樣論述：

Victor Lee is a principal engineer and research scientist at Intel’s Parallel Computing Lab. His research interests include emerging applications, application analysis and auto-tuning as well as computer architecture. He is currently working on analyzing the HW/SW interactions between HPC/Big-data a

pplications and modern processor architecture and on developing innovative architecture features to improve application and processor (performance and energy) efficiency. Victor received a B.S. in Electrical Engineering from University of Washington in 1994, S.M. in Electrical Engineering and Comput

er Science from Massachusetts Institute of Technology in 1996. He joined Intel in 1997 and had worked on many Intel processors include Intel Pentium Pro, Intel Pentium 4, and Intel Itanium processors. In 2002, Victor moved to Intel Labs and spearheaded the many-core research which eventually lead to

the Intel Many Integrated Core architecture and the first Intel Xeon Phi coprocessor product. He is a senior member of IEEE. He has 30+ professional publications, 15+ granted patents and more than 30 pending patent applications worldwide. Jee Choi is a postdoctoral research at IBM TJ Watson Researc

h Center. Kirk W. Cameron is a professor of computer science and a research fellow in the College of Engineering at Virginia Tech. The central theme of his research is to improve power and performance efficiency in high performance computing (HPC) systems and applications. Prof. Cameron is a pioneer

and leading expert in Green Computing. Cameron is also the Green IT columnist for IEEE Computer, Green500 co-founder, founding member of SPECPower, EPA consultant, Uptime Institute Fellow, and co-founder of power management software startup company MiserWare. His advanced power measurement software

infrastructure for research, (PowerPack), is used by dozens of research groups around the world. His power management software, Granola, is used by hundreds of thousands of people in more than 160 countries.

程式 class進入發燒排行的影片

低腔壓高濃度過氧化氫混合式火箭引擎之研究

為了解決程式 class的問題，作者林育宏 這樣論述：

本論文為混合式火箭系統入軌段火箭引擎的前期研究，除了高引擎效率的要求外，更需要精準的推力控制與降低入軌段火箭的結構重量比，以增加入軌精度與酬載能力。混合式火箭引擎具相對安全、綠色環保、可推力控制、管路簡單、低成本等優點，並且可以輕易地達到引擎深度節流推力控制，對於僅能單次使用、需要精準進入軌道的入軌段火箭推進系統有相當大的應用潛力。其最大的優點是燃料在常溫下為固態、易保存且安全，即使燃燒室或儲存槽受損，固態的燃料也不會因此產生劇烈的燃燒而導致爆炸。雖然混合式推進系統有不少優於固態及液態推進系統的特性，相較事先預混燃料與氧化劑的固態推進系統及可精準控制氧燃比而達到高度燃燒效率的液態推進系統，混

合式推進系統有擴散焰邊界層燃燒特性，此因素導致混合式推進系統的燃料燃燒速率普遍偏低，使得設計大推力引擎設計時需要長度較長的燃燒室來提供足夠的燃料燃燒表面積，也導致得更高長徑比的火箭設計。針對此問題，本論文利用渦漩注入氧化劑的方式，增加了氧化劑在引擎內部的滯留時間，並藉由渦旋流場提升氧化劑與燃料的混合效率以及燃料耗蝕率；同時降低引擎燃燒室工作壓力以研究其推進效能，並與較高工作壓力進行比較。本論文使用氮氣加壓供流系統驅動90%高濃度過氧化氫 (high-test peroxide) 進入觸媒床，並使用三氧化二鋁 (Al2O3) 為載體的三氧化二錳 (Mn2O3) 觸媒進行催化分解，隨後以渦漩注入的

方式注入燃燒腔，並與燃料聚丙烯（polypropylene, PP）進行燃燒，最後經由石墨鐘形噴嘴 (bell-shaped nozzle) 噴出燃燒腔後產生推力。實驗部分首先透過深度節流測試先針對原版腔壓40 barA引擎在低腔壓下的氧燃比 (O/F ratio)、特徵速度 (C*)、比衝值 (Isp) 等引擎性能進行研究，提供後續設計20 barA低腔壓引擎的依據，並整理出觸媒床等壓損以及燃燒室等流速的引擎設計轉換模型；同時使用CFD模擬驗證渦漩注射器於氧化劑全流量下 (425 g/s) 的壓損與等壓損轉換模型預測的數值接近 (~1.3 bar)。由腔壓20 barA 引擎的8秒hot-f

ire實驗結果顯示，由於推力係數 (CF) 在低腔壓引擎的理論值 (~1.4) 相較於腔壓40 barA引擎的推力係數理論值 (~1.5) 較低，因此腔壓20 barA引擎的海平面Isp相較於腔壓40 barA引擎的Isp 低了約13 s，但是兩組引擎具有相近的Isp效率 (~94%)，且長時間的24秒hot-fire測試顯示Isp效率會因長時間燃燒而提升至97%。此外，氧化劑流量皆線性正比於推力與腔壓，判定係數 (R2) 也高於99%，實現混合式火箭引擎推力控制的優異性能。透過燃料耗蝕率與氧通量之關係式可知，低腔壓引擎在相同氧化劑通量下 (100 kg/m2s) 較腔壓40 barA引擎降低

了約15%的燃料耗蝕率，因此引擎的燃料耗蝕率會受到腔體壓力轉換的影響而變動，本論文也針對此現象歸納出一校正方法以預測不同腔壓下的燃料耗蝕率，此校正後的關係式可提供未來不同腔壓引擎燃料長度設計上的準則。最後將雙氧水貯存瓶的上游氮氣加壓壓力從約58 barA降低至38 barA並進行8秒hot-fire測試，結果顯示仍能得到與過往測試相當接近的Isp效率 (~94%)，而此特性除了能讓雙氧水及氮氣貯存瓶擁有輕量化設計的可能性，搭配具流量控制的控制閥也有利於未來箭體朝向blowdown type型式的設計，因此雙氧水加壓桶槽上的氮氣調壓閥 (N2 pressure regulator valve)

將可省去，得以降低供流系統的重量，並增加箭體的酬載能力，對於未來箭體輕量化將是一大優勢。

Python, Data Science, and Machine Learning

為了解決程式 class的問題，作者Bilokon, Paul A. 這樣論述：

應用無橋式升降壓型功率因數修正器及LLC諧振式轉換器於USB電力傳輸

為了解決程式 class的問題，作者陳俊宇 這樣論述：

摘 要 iABSTRACT ii致謝 iv目錄 v圖目錄 x表目錄 xxix第一章 緒論 11.1 研究動機及目的 11.2 研究方法 111.3 論文內容架構 12第二章 先前技術之動作原理與分析 132.1 前言 132.2 有橋式升降壓型功率因數修正電路架構與其動作原理 132.3 諧振式轉換器架構與特性 182.3.1 串聯諧振式轉換器 182.3.2 並聯諧振式轉換器 202.3.3 串並聯諧振式轉換器 222.4 USB Power Delivery 25第三章 所提無橋式升降壓型功率因數修正電路與LLC諧振式轉換器之動作原理與分析 263

.1 前言 263.2 電路符號定義及假設 263.3 所提電路之工作原理與數學分析 293.3.1 無橋式升降壓型功率因數修正電路之運作行為 303.3.2 無橋式升降壓型功率因數修正電路之電壓轉換比 333.3.3 無橋式升降壓型功率因數修正電路之電感電流邊界條件 353.3.4 無橋式升降壓型功率因數修正電路之實際電壓轉換比 373.3.5 LLC諧振轉換電路之運作行為 383.3.6 LLC之電壓增益 533.3.7 LLC電壓增益與K值關係 553.3.8 電壓增益與品質因素Q關係 57第四章 系統之硬體電路設計 584.1 前言 584.2 系統架構 5

84.3 架構之系統規格 604.4 系統設計 614.4.1 輸入端之差動濾波器設計 614.4.2 電感L1與電感L2設計 68(A) 電感L1與L2之感量 68(B) 電感L1與L2之磁芯選用 724.4.3 輸出電容Co1設計 754.4.5 模擬變載輸出電壓變動量量測 764.4.6 諧振槽參數設計 79(A) 變壓器Tr之匝數比n 79(B) 輸出等效阻抗Rac 79(C) 品質因數Q 80(D) 諧振元件Lr、Cr、Lm參數 84(E) 磁性元件Lm、Lr繞製 854.4.5 輸出電容Co2設計 924.4.6 同步整流器IC說明 934.4

.7 功率開關與二極體之選配 95(A) 升降壓型功率因數修正器之開關元件選配 96(B) LLC諧振式轉換器之開關元件選配 974.4.7 驅動電路設計 984.5 電壓偵測電路設計 994.6 元件總表 102第五章　軟體規劃及程式設計流程 1035.1 前言 1035.2 程式動作流程 1035.2.1 ADC取樣與資料處理 1045.2.2 移動均值濾波模組 1065.2.3 PI控制器模組與限制器模組 1085.2.4 控制開關訊號模組 110第六章 模擬與實作波形 1126.1 前言 1126.2 電路模擬結果 1126.2.1 電路於15W功率

等級之模擬波形圖 1146.2.2 電路於27W功率等級之模擬波形圖 1196.2.3 電路於45W功率等級之模擬波形圖 1246.2.4 電路於100W功率等級之模擬波形圖 1296.3 所提功率因數修正電路的實驗波形圖 1356.3.1 單級功率因數修正電路於16.6W功率等級之實驗波形圖 136(A) 輸入電壓85V之波形量測 136(B) 輸入電壓110V之波形量測 139(C) 輸入電壓220V之波形量測 142(D) 輸入電壓264V之波形量測 1456.3.2 單級功率因數修正電路於30W功率等級之實驗波形圖 148(A) 輸入電壓85V之波形量測 148

(B) 輸入電壓110V之波形量測 152(C) 輸入電壓220V之波形量測 155(D) 輸入電壓264V之波形量測 1586.3.3 單級功率因數修正電路於50W功率等級之實驗波形圖 161(A) 輸入電壓85V之波形量測 161(B) 輸入電壓110V之波形量測 164(C) 輸入電壓220V之波形量測 167(D) 輸入電壓264V之波形量測 1706.3.4 單級功率因數修正電路於111W功率等級之實驗波形圖 173(A) 輸入電壓85V之波形量測 173(B) 輸入電壓110V之波形量測 177(C) 輸入電壓220V之波形量測 181(D) 輸入電壓264

V之波形量測 1846.3.5 單級功率因數修正電路實驗波形比較結果之小結 188(A) 16.6W之功率等級 188(B) 30W之功率等級 189(C) 50W之功率等級 189(D) 100W之功率等級 1906.4 所採用之LLC諧振式電路的實驗波形圖 1926.4.1 單級LLC諧振式電路於15W功率等級之實驗波形圖 1926.4.2 單級LLC諧振式電路於27W功率等級之實驗波形圖 1966.4.3 單級LLC諧振式電路於45W功率等級之實驗波形圖 2016.4.4 單級LLC諧振式電路於100W功率等級之實驗波形圖 2056.5 所提電路之變載測試 211

6.5.1 系統於15W功率等級之變載實驗波形圖 2116.5.2 系統於27W功率等級之變載實驗波形圖 2206.5.3 系統於45W功率等級之變載實驗波形圖 2296.5.4 系統於100W功率等級之變載實驗波形圖 2386.6 實驗相關參數量測 2496.7 損失分析 253(1) 開關S1~S7之損失 253(2) 二極體D1、D2、D3之損失 255(3) 磁性元件之損失 255(5) 電容元件之損失 257(6) 損失分析總結 258第七章　文獻比較 260第八章　結論與未來展望 2628.1結論 2628.2　未來展望 262參考文獻 263符號彙

編 272