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另外網站KETT LZ-990 新型膜厚計 - 仁浩儀器也說明：內建中文、日文、韓文、英文等語言顯示7. ... 秉持日本KETT「◎」圓形設計概念，同時擁有電磁式膜厚計與渦電流膜厚計雙重功能，並且自動判別基材是否具導磁性功能。
崑山科技大學 機械工程研究所 江智偉所指導 徐敏清的 非破壞性材料瑕疵雲端檢測系統開發 （2021），提出渦電流檢測英文關鍵因素是什麼，來自於非破壞性檢測、材料瑕疵、雲端物聯網。
而第二篇論文華梵大學 智慧生活科技學系碩士班 張志平所指導 麥文瑄的 應用資料探勘於SMT點膠製程參數推力之預測 （2020），提出因為有 表面黏著技術、支援向量迴歸、資料探勘、隨機森林、類神經網路的重點而找出了 渦電流檢測英文的解答。
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圖解真空技術入門
為了解決渦電流檢測英文 的問題，作者SojiKomiya 這樣論述：
本書特色 真空技術早在20世紀初就出現，直到20世紀後半才迅速被廣泛應用。本書從初階的何謂真空、真空中的物理現象、真空的產生一直到真空的量測、真空系統的組成元件、側漏技術、超高真空與潔淨真空、真空工業的發展，每一個單元都詳盡說明。實屬史上第一本針對初次接觸真空技術的讀者做全面性解說的書籍。 本書並且是因應當前大眾需要所特別撰寫，內容盡量解說最基本的入門知識，並搭配圖解。因此，即使是非常重要的專業知識也大膽捨棄，相信本書能補足真空技術入門書籍不足的缺憾。讀者可將此書當作學習更專業知識前的跳板，掌握基本概要，將讓您更得心應手。 作者簡介 小宮 宗治 Soji Komiya 1948
年 東京工業大學附屬工業專門部金屬工業科畢業 1959年 就職於日本真空技術株式會社 1977年 獲得東京工業大學工學博士學位 1979年 被任命為日本真空技術株式會社董事(director) 1986年 就職於株式會社Ulvac Cooperate Center董事(director) 1990年 就職於株式會社筑波研究聯合中心(consortium) 常務董事(director) 1995年 就職於株式會社筑波研究聯合中心(consortium) 專務理事 1998年 由株式會社筑波研究聯合中心(consortium) 專務理事退休 著作有：《電子管的管史》
（□□□社）《實驗物理學講座4「真空技術」》（共立出版）《□□□□□□□□．表面分析的科學》（講談社）《表面處理□材料》（裳華房）以上四書為與他人共著作品。《超高真空□□□□世界》（講談社）《週末八□岳□□□暮□□》（晶文社）《定年後八□岳□□□暮□□》（晶文社） 譯者簡介 羅丞曜 日本東京大學畢業。電氣工學博士。現任國立清華大學奈米工程與微系統研究所 助理教授。近期研究興趣為半導體材料、光學微機電系統、印刷式生產技術及軟性電子元件。截至目前為止個人著有十八篇科技論文並擁有六件半導體元件製程國際專利。自2000年起持續從事英文及日文科技圖書及論文的翻譯、校稿及潤稿工作。目前譯有《圖解光與雷
射應用》(世茂出版)。
非破壞性材料瑕疵雲端檢測系統開發
為了解決渦電流檢測英文 的問題，作者徐敏清 這樣論述：
材料檢測工作的質量，決定了工程用材料的好壞，進而直接決定工程的質量。然而在目前製造產業中材料檢測方式以非破壞性檢測和破壞性檢測兩種來劃分，而非破壞性檢測更是材料檢測的主流方式。目前在非破壞性檢測方法中，利用雷射聲表面聲波檢測和機器視覺檢測，其設備仍所費不貲，無法廣泛用於製造加工業者，尤其是傳統產業如模具及扣件業者。然而目前政府推廣工業4.0政策之下講求智慧化、時效快且經濟效益的時代，具備快速、經濟且非破壞性的材質檢測能量將是未來的趨勢，為此本研究以兩種方式，利用相關波動原理，試圖開發簡易非破壞性檢測方法，一種為以都卜勒效應為基礎的非破壞性材料瑕疵檢測系統，研究結果顯示可用於粗糙度之快篩檢測，
另一種方式為利用換能器分析電壓傳送之關係，此方法可有效分辨材料種類，和細微瑕疵面積，相關的擬合公式也可作為瑕疵面積之判斷，同時結合雲端物聯網技術，將檢測資訊即時傳送至行動裝置，提供製造產業一種智慧快速材料檢測方法與設備。
應用資料探勘於SMT點膠製程參數推力之預測
為了解決渦電流檢測英文 的問題，作者麥文瑄 這樣論述：
傳統的焊接技術已改用表面黏著技術( Surface Mount Technology, SMT)來達到現代3C電子產品重量輕、厚度薄、長度短、體積小的需求，且電子元件及印刷電路板(Printed Circuit Board, PCB)也跟著變小，SMT是一種將電子元件黏著在電路板上的技術。本研究資料整合吳佩俞(2012)、鄭旭淵(2018)論文，在長暉電子實業有限公司進行SMT之實驗所收集之資料。本研究藉由文獻探討及彙整SMT點膠製程參數為回焊溫度(weldtemp)、回焊速度(speed)、壓著高度(height)、推力方向(direction) : 1.直推力；2.橫推力及溫度(temp
eture) : 1.室溫；2.高溫、電子元件:1.一般元件；2. Micro USB元件、插件位置(position)等。使用Weka資料探勘軟體之高斯過程迴歸、類神經網路、線性迴歸、支援向量迴歸、隨機森林等方法，將訓練集、測試集、預測集、驗證集，比較出RMSE的平均最小，來得知最佳的模型為隨機森林Random Forest選擇參數為bag Size Percent=65, Num Iterations=30, Num Features=0, seed=1。透過本研究之最佳模型結合完全排列組合法求得最佳參數水準組合為插件位置=9、11，推力方向=1(直推力)，溫度=1(室溫)，回焊溫度=17
5~265℃，回焊速度=100、110cm/min，壓著高度=0.1mm。