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國立交通大學 應用化學系碩博士班 刁維光所指導 費愛銘的 超空間解析飛秒激發偵測顯微鏡與飛秒瞬態吸收顯微鏡技術研究 （2019），提出im donut jp關鍵因素是什麼，來自於空間解析、飛秒激發、顯微鏡、飛秒瞬態吸收顯微鏡。
超空間解析飛秒激發偵測顯微鏡與飛秒瞬態吸收顯微鏡技術研究
為了解決im donut jp 的問題，作者費愛銘 這樣論述：
想要突破以飛秒雷射為光源之瞬時吸收顯微術的光學解析度上的限制，過程中必定會面臨許多的挑戰和困難。而本論文將會詳述我們所面臨到的挑戰，以及如何突破光學限制的方法和巧思來完成此一新型態顯微術。此一新想法有別於一般的瞬時吸收顯微術之處在於我們使用了三道超快雷射光源。第一道為雷射模態為TEM00之激發雷射，第二道為雷射模態為TEM01*的激發光源，其相位與第一道雷射模態為TEM00之激發雷射的相位相差180度，而第三道光源為雷射模態為TEM00之探測光源。我們將三道雷射光在時間及空間上重合後，藉由偵測第三道探測光源受到激發光源影響後之探測光源強度的變化情形。而我們利用此一新型顯微術可以觀測到光學解析
度為36 nm之ZnO奈米粒子，突破了繞射極限的限制(